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    低温介电温谱测试系统

    低温介电温谱测试系统

    • 所属分类:光电仪器
    • 浏览次数:
    • 发布日期:2020-04-14 15:44:43
    • 产品概述

    生产光学元器件厂家

    1. 系统配置:Acer 商用计算机,信号切换与控制系统,生产光学元器件厂家低温仪及温控系统,四通道夹具,液氮罐、测试与数据采集软件(软件兼容同惠 LCR 表以及是德(安捷伦)E4980AL 型 LCR 表和 4294A 型阻抗分析仪);

    2. 输入端口:四个 BNC 端口;

    3. 输出端口:10 个 SMA 输出端口,需采用 SMA 接头以提高高频测试稳定性(频率大于1MHz 时);

    4. 温度范围:-170℃ 至 220℃(额定温区,长时间使用温度),-185℃ 至 250℃(极限温区,短时间使用);

    5. 系统屏蔽:通道切换主板预埋屏蔽层设计,连接线材采用射频同轴线,以保证低频与高频测试精度和稳定性;

    6. 测试夹具:融石英与探针复合结构夹具,探针需使用铍铜镀金材料以保证长期测试稳定性;

    7. 同时测量样品数:4 个;

    8. 测试液氮用量:一次测试液氮使用小于 1L;

    9. 测试频率范围:20Hz 至 5 MHz,基本准确度 0.05%;

    10. 升温速率:升温速率 1-10℃/min,测温精度±0.1℃

    11. 测试样品直径:2 mm 至 25 mm;

    12. 样品厚度:0.02 mm 至 4 mm;

    13. 单样品测试频率数:Z少 6 个频率测量功能;

    14. 变温介电频谱测试功能;

    15. 变温阻抗测试功能;

    16. 扫频测试功能。


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